KEW3500测试主机与HCD大电流台选件链接成测试系统，可测试IGBT参数包括了ICES、BVCES、IGESF、IGESR、VGETH、VGEON、VCESAT、ICON、VF、GFS、RCE等全直流参数，所有小电流指标***1%重复测试精度，大电流指标***2%以内重复测试精度。阳极可扩展至500A、1000A、1250A、1500A、2500A。

针对目前封装的多单元IGBT特征，根据用户需要提供4/8/20单元扫描测试适配器，从而实现多单元封装器件的一次性全参数测试。

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陕西开尔文测控技术有限公司

主营产品：半导体分立器件、IGBT测试仪、SiC动态参数、三极管测试仪

半导体分立器件测试系统

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