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开尔文测控-SiC器件测试仪
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开尔文测控-SiC器件测试仪

产品标签  | SiC器件测试仪 碳化硅器件测试仪 SiC器件测试系统 碳化硅器件测试系统 大功率碳化硅器件测试

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开尔文测控-SiC器件测试仪

适用于传统硅基及SiC二极管、三极管、MOSFET、J-FET、IGBT单管及模块、整流桥、可控硅、光耦、PIM及IPM模块等十九大类半导体分立器件全静态参数测试

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    品牌：开尔文测控型号：KEW3500产品别名：半导体分立器件测试系统

    开尔文测控-SiC器件测试仪详细介绍

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