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开尔文测控KEW6500-分立器件综合参数测试仪动态测试机

产品标签  | 碳化硅测试仪 动态测试仪 半导体动态测试机 双脉冲测试仪 分立器件动态测试仪

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开尔文测控KEW6500-分立器件综合参数测试仪动态测试机

适用于碳化硅二极管、IGBT模块、MOS管等器件的时间参数测试

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    品牌：开尔文测控型号：KEW6500产品别名：半导体分立器件动态参数测试仪
    用途：用于碳化硅二极管、IGBT模块、MOS管等器件的时间参数测试适用行业：电力设备、电动汽车、轨道交通等

    开尔文测控KEW6500-分立器件综合参数测试仪动态测试机详细介绍

    本测试系统具有高测试精度、高灵敏度、高可靠性、高安全性的特点，实现碳化硅二极管、MOSFET器件开通时间、关断时间、快恢复二极管反向恢复时间、反向电流及反向恢复电荷等测试，通过计算机控制，示波器采集波形，由计算机处理数据并显示测试结果


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