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开尔文测控KEW-CV曲线测试仪
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开尔文测控KEW-CV曲线测试仪

产品标签  | CV曲线测试仪 CV测试仪

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开尔文测控KEW-CV曲线测试仪

本产品适用于测试SiC、Si器件的栅极电容、栅极电阻及CV曲线的绘制。本系列产品可定制测试电压、测试频率、测试电平。

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  • 发货地：陕西 西安
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    品牌：开尔文测控用途：本产品适用于测试SiC、Si器件的栅极电容、栅极电阻及CV曲线的绘制。产品用途：本产品适用于测试SiC、Si器件的栅极电容、栅极电阻及CV曲线的绘制。

    开尔文测控KEW-CV曲线测试仪详细介绍

    本产品适用于测试SiC、Si器件的栅极电容、栅极电阻及CV曲线的绘制。

    本系列产品可定制测试电压、测试频率、测试电平。



    测试参数

     

    Ciss(门极输入电容)

    Crss(集电极/漏极反馈电容)

    Coss(输出电容)

    Rg

    CV曲线

    Ciss分辨率：0. 1pF；

    Cres分辨率：0.1pF；

    Coss分辨率：0. 1pF；

    Rg分辨率：0. 1Ω


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