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半导体分立器件测试系统
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半导体分立器件测试系统

该系统是专为测试大功率半导体分立器件而设计,它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力。

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  • 地   址:
    陕西 西安 长安区 新型工业园发展大道26号7号楼1层
品牌:开尔文测控型号:KEW3500

半导体分立器件测试系统详细介绍

主要技术参数

主极电压      2000V(加选件可扩展至3300V)

主极电流      50A(加选件可扩展到100A至2500A)

控制极电压   20V(加选件可扩展到80V)

控制极电流   10A(加选件可扩展到40A)

电压分辨率   1mV

电流分辨率   100pA(加选件可扩展到1pA)

测试速度       5ms/参数

可测试器件种类

该系统是专为测试大功率半导体分立器件而设计,它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力,能够真实准确测试以下19个类型的半导体器件以及相关器件组成的组合器件、器件阵列:

器件测试种类

二极管DIODE
稳压(齐纳)二极管ZENER
晶体管TRANSISTOR(NPN/PNP)
单向可控硅(普通晶闸管)SCR
双向可控硅(双向晶闸管)TRIAC
金属-氧化物-半导体场效应管MOSFET(N-CH/P-CH)
结型场效应管JFET(N-CH/P-CH)
三端稳压器REGULATOR(正电压/负电压,固定/可变)
绝缘栅双***功率晶体管IGBT(N-CH/P-CH)
光电耦合器OPTO-COUPLER(NPN/PNP)
达林顿阵列器件DARLINTON
光电开关管OPTO-SWITCH
继电器RELAY(A,B,C型)
金属氧化物压变电阻MOV
压变电阻VARISTOR
智能功率模块IPM
集成功率模块PIM


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