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开尔文测控-分立器件测试仪
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开尔文测控-分立器件测试仪

该系统是专为测试大功率半导体分立器件而设计。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力,能够真实准确测试19个类型的半导体器件以及相关器件组成的组合器件、器件阵列

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  • 地   址:
    陕西 西安 长安区 新型工业园发展大道26号7号楼1层
品牌:开尔文测控型号:KEW3500

开尔文测控-分立器件测试仪详细介绍

测试器件种类

二极管

DIODE

稳压(齐纳)二极管

ZENER

晶体管

TRANSISTOR(NPN/PNP)

单向可控硅(普通晶闸管)

SCR

双向可控硅(双向晶闸管)

TRIAC

金属-氧化物-半导体场效应管

MOSFET(N-CH/P-CH)

结型场效应管

JFET(N-CH/P-CH)

三端稳压器

REGULATOR(正电压/负电压,固定/可变)

绝缘栅双***功率晶体管

IGBT(N-CH/P-CH)

光电耦合器

OPTO-COUPLER(NPN/PNP)

达林顿阵列器件

DARLINTON

光电开关管

OPTO-SWITCH

继电器

RELAY(A,B,C型)

金属氧化物压变电阻

MOV

压变电阻

VARISTOR

智能功率模块

IPM

集成功率模块

PIM


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