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开尔文测控-半导体分立器件静态参数测试仪

产品标签  | 二极管测试仪 三极管测试仪 光耦测试仪 碳化硅测试仪 MOS管测试仪

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开尔文测控-半导体分立器件静态参数测试仪

适用于传统硅基及SiC二极管、三极管、MOSFET、J-FET、IGBT单管及模块、整流桥、可控硅、光耦、PIM及IPM模块等十九大类半导体分立器件全静态参数测试

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    品牌：开尔文测控型号：KEW3500产品别名：二极管测试仪

    开尔文测控-半导体分立器件静态参数测试仪详细介绍

    采用32位嵌入式计算机，运行速度快，扩展能力强，实现脱机运行

    采用高速16位并行D/A、A/D和专用并行内部总线技术设计，速度快、稳定性高


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