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开尔文测控KEW3500-分立器件综合参数测试仪（台机）

产品标签  | 静态参数测试系统 静态测试机 IGBT测试仪 二极管测试仪 三极管测试仪

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开尔文测控KEW3500-分立器件综合参数测试仪（台机）

适用于传统硅基及SiC二极管、三极管、MOSFET、J-FET、IGBT单管及模块、整流桥、可控硅、光耦、PIM及IPM模块等十九大类半导体分立器件全静态参数测试。

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    品牌：开尔文测控型号：KEW3500产品别名：半导体分立器件静态参数测试系统

    开尔文测控KEW3500-分立器件综合参数测试仪（台机）详细介绍

    采用脉冲法测试参数、脉宽可为300uS，占空比可达1/3000以上

         采用多级开尔文技术，系统稳定性高，测试结果准确，重复性好


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