| 品牌：开尔文测控 | 型号：KEW3500 | 产品别名：半导体分立器件静态参数测试系统 |
| 用途：用于碳化硅二极管、IGBT模块、MOS管等器件的时间参数测试 | 适用行业：电力设备、电动汽车、轨道交通等 |
KEW3500测试主机与HCD大电流台选件链接成测试系统，可测试IGBT参数包括了ICES、BVCES、IGESF、IGESR、VGETH、VGEON、VCESAT、ICON、VF、GFS、RCE等全直流参数，所有小电流指标***1%重复测试精度，大电流指标***2%以内重复测试精度。阳极可扩展至500A、1000A、1250A、1500A、2500A。
针对目前封装的多单元IGBT特征，根据用户需要提供4/8/20单元扫描测试适配器，从而实现多单元封装器件的一次性全参数测试。
